Comet Yxlon GmbH

• Serie: Serie FF
• Industria: automoción, electrónica, aeroespacial, ciencia e investigación, semiconductores, fabricación de aditivos
• Tamaño del defecto: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Tamaño de la pieza: tamaño pequeño, tamaño mediano
• Modo de funcionamiento: 3D, 2D/3D, metrología

• Análisis precisos de materiales en aplicaciones de laboratorio
• visibilidad de detalles 2D de hasta 150 nm con tubo de transmisión de 190 kV
• Manipulación precisa y estabilidad de temperatura gracias a la base de granito
• Interfaz gráfica de usuario Geminy intuitiva con pantallas táctiles
• Versión metrológica opcional con un MPESD = 3,9 µm + L/75 [L en mm]
• Ensayos no destructivos de alta energía

Cuanto más pequeños se vuelven los componentes, más importante es conseguir exploraciones de rayos X y TC altamente precisas y fiables para el aseguramiento de la calidad, el control de procesos y las inspecciones de series pequeñas. Los sistemas de alta resolución extremadamente compactos Comet Yxlon FF20 CT y FF20 CT Metrology están diseñados específicamente para la inspección de piezas y estructuras internas muy finas. Con una energía comparativamente alta de 190 kV, incluso los artículos densos pueden analizarse hasta el más mínimo detalle.

• Componentes electrónicos, incluidos SMD
• Paquetes de semiconductores
• Células de baterías
• Plásticos moldeados por inyección
• Productos con nuevos materiales o nuevos métodos de fabricación, por ejemplo, componentes de fabricación aditiva, plásticos reforzados con fibras
• Microsistemas (MEMS, MOEMS)
• Objetos médicos, por ejemplo, cánulas
• Muestras geológicas, paleontológicas y biológicas

• Control de calidad, análisis de materiales, investigación de materiales
• Análisis de fallos y estructuras
• Comprobación de ensamblajes
• Inspección de pequeñas producciones en serie
• Control de procesos
• Digitalización
• Segmentación